LabVIEW應(yīng)用于工業(yè)測量和控制平臺
出處:persia 發(fā)布于:2008-09-17 14:18:16
LabVIEW可用于要求苛刻的工業(yè)應(yīng)用,如I/O、高速模擬信號采集、振動監(jiān)控、控制及其視覺之類的處理應(yīng)用,以及與工業(yè)硬件(如OPC設(shè)備和PLC)的通信。另外,可以將LabVIEW中的可編程自動控制器(PAC)集成于其他測控系統(tǒng)中,從而達(dá)到附加的測量和控制功能,如圖所示。工業(yè)測量和控制中的應(yīng)用通常有:集成的測試和控制、機(jī)器自動化、機(jī)器視覺、機(jī)器狀況監(jiān)控、分布式監(jiān)控和控制及功率監(jiān)控等。

圖 LabVIEW應(yīng)用于工業(yè)測量和控制平臺
LabVIEW在工業(yè)測量和控制平臺中的應(yīng)用及任務(wù)如表所示。
表:LabVIEW在工業(yè)測量和控制中的應(yīng)用及任務(wù)

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