飛兆半導(dǎo)體:經(jīng)得起推敲的可靠性
出處:Dr. FAE 發(fā)布于:2011-08-26 22:25:27
物質(zhì)存在的形式多種多樣,固體、液體、氣體、等離子體等等。我們通常把導(dǎo)電性和導(dǎo)熱性差或不好的材料,如金剛石、人工晶體、琥珀、陶瓷等等,稱為絕緣體。而把導(dǎo)電、導(dǎo)熱都比較好的金屬如金、銀、銅、鐵、錫、鋁等稱為導(dǎo)體。可以簡(jiǎn)單的把介于導(dǎo)體和絕緣體之間的材料稱為半導(dǎo)體。與導(dǎo)體和絕緣體相比,半導(dǎo)體材料的發(fā)現(xiàn)是晚的,直到20世紀(jì)30年代,當(dāng)材料的提純技術(shù)改進(jìn)以后,半導(dǎo)體的存在才真正被學(xué)術(shù)界認(rèn)可。電阻率介于金屬和絕緣體[1]之間并有負(fù)的電阻溫度系數(shù)的物質(zhì)。半導(dǎo)體室溫時(shí)電阻率約在10E-5~10E7歐姆·米之間,溫度升高時(shí)電阻率指數(shù)則減小。半導(dǎo)體材料很多,按化學(xué)成分可分為元素半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體兩大類。鍺和硅是常用的元素半導(dǎo)體;化合物半導(dǎo)體包括Ⅲ-Ⅴ 族化合物(砷化鎵、磷化鎵等)、Ⅱ-Ⅵ族化合物( 硫化鎘、硫化鋅等)、氧化物(錳、鉻、鐵、銅的氧化物),以及由Ⅲ-Ⅴ族化合物和Ⅱ-Ⅵ族化合物組成的固溶體(鎵鋁砷、鎵砷磷等)。除上述晶態(tài)半導(dǎo)體外,還有非晶態(tài)的玻璃半導(dǎo)體、有機(jī)半導(dǎo)體等。
你也許會(huì)覺(jué)得我這個(gè)智商高達(dá)181的帥哥是個(gè)不識(shí)情趣的人,但其實(shí)并非如此。我喜歡在晚上讀點(diǎn)輕松的東西,例如Kreck 與 Lück合著的《諾維科夫猜想》,或者是卡沃·米德 (Carver Mead)的《集合電動(dòng)力學(xué)》等。這些巨著非常引人入勝,我相信你一定也深有同感。
這讓我對(duì)半導(dǎo)體的可靠性有了一點(diǎn)小小的聯(lián)想。不過(guò)我得在此聲明,我剛剛喝了點(diǎn)葡萄酒,所以我的想法可能會(huì)受到酒精的影響啊。
半導(dǎo)體(semiconductor),指常溫下導(dǎo)電性能介于導(dǎo)體(conductor)與絕緣體(insulator)之間的材料。半導(dǎo)體在收音機(jī)、電視機(jī)以及測(cè)溫上有著廣泛的應(yīng)用。半導(dǎo)體的分類,按照其制造技術(shù)可以分為:集成電路器件,分立器件、光電半導(dǎo)體、邏輯IC、模擬IC、儲(chǔ)存器等大類,一般來(lái)說(shuō)這些還會(huì)被分成小類。此外還有以應(yīng)用領(lǐng)域、設(shè)計(jì)方法等進(jìn)行分類,雖然不常用,但還是按照IC、LSI、VLSI(超大LSI)及其規(guī)模進(jìn)行分類的方法。此外,還有按照其所處理的信號(hào),可以分成模擬、數(shù)字、模擬數(shù)字混成及功能進(jìn)行分類的方法。
前面提到過(guò)的卡沃·米德 ,他的成就眾多,其中之一就是在1960年代,當(dāng)戈登·摩爾(Gordon Moore)尚任職于飛兆半導(dǎo)體公司時(shí),對(duì)摩爾定律 (即集成電路上的晶體管密度約每?jī)赡瓯銜?huì)翻一番) 所作出的貢獻(xiàn)。
1965年,戈登·摩爾剛剛開(kāi)始進(jìn)行他的數(shù)據(jù)繪制工作,按年份把芯片上晶體管的數(shù)目以對(duì)數(shù)的形式繪制出來(lái)。它們都是一些不起眼的手繪圖。現(xiàn)在我還保留了一些。
有一天,我們談到這些手繪圖。
他說(shuō):"你正在研究當(dāng)物體極為微型化時(shí)發(fā)生的電子隧道效應(yīng),對(duì)嗎?"
"是的。"
"那不是會(huì)限制晶體管尺寸進(jìn)一步縮小嗎?"
"的確是。"
"那么,可以達(dá)到多小?"
戈登追問(wèn)這些非常簡(jiǎn)單問(wèn)題的方式,讓你確實(shí)覺(jué)得你應(yīng)該知道所有答案,然而我并不知道。我說(shuō):"好的,我得去想一想".從那天以后,我就一直在思考這個(gè)問(wèn)題。
摩爾定律的推動(dòng)力在于,在我們制造出更小晶體管的同時(shí),它們的制造成本也越來(lái)越低,而且工作性能也越來(lái)越高。這不是很了不起嗎?那么,工作性能更高意味著什么呢? 這意味著這些晶體管的功耗會(huì)更低,開(kāi)關(guān)速度也更快。正是這個(gè)小小的奇跡,推動(dòng)了數(shù)字化革命的驚人進(jìn)步。
在創(chuàng)業(yè)50多年之后,飛兆半導(dǎo)體今天已是功率管理和便攜式技術(shù)的領(lǐng)導(dǎo)廠商,而我們的工廠仍繼續(xù)以的晶體管光刻技術(shù)提供各種的產(chǎn)品。
像我們這樣能夠?yàn)榭蛻舨粩喔倪M(jìn)產(chǎn)品、同時(shí)又逐年降低價(jià)格的企業(yè)并不多。一般來(lái)說(shuō),如果你在大賣場(chǎng)購(gòu)買廉價(jià)品牌的貨品,你對(duì)商品的質(zhì)量、功能、可靠性的期望值就會(huì)降低。倘若你低價(jià)買了一輛汽車,你就會(huì)有心理準(zhǔn)備,它不會(huì)像品牌那么舒服,也不會(huì)那么安全可靠。但是,半導(dǎo)體企業(yè)的運(yùn)作方式卻不是這樣。無(wú)論你花費(fèi)多少來(lái)購(gòu)買我們的產(chǎn)品,你都可以期待高可靠性、穩(wěn)健堅(jiān)固的部件。
年復(fù)一年,我們不斷改進(jìn),盡力生產(chǎn)出故障率超低的部件。舉個(gè)例子,飛兆的N –溝道FET NDT3055的FIT (Failure in Time, 1G元件小時(shí)的故障數(shù)量) 額定值為3.65,也就是說(shuō)工作3127年才會(huì)出現(xiàn)故障。
讓我們仔細(xì)看看這意味著什么。我們當(dāng)然無(wú)法創(chuàng)建大量的部件并進(jìn)行長(zhǎng)達(dá)3,127年的測(cè)試。當(dāng)然我們很樂(lè)意這樣做,只是這并不可行。這個(gè)FIT 額定值是基于部件樣品的加速壽命測(cè)試,再將結(jié)果插入公式法而推算出來(lái)的。
其基本概念是,利用高濕度與過(guò)壓應(yīng)力對(duì)樣品器件進(jìn)行老化試驗(yàn),這樣便無(wú)需等待幾千年就可以估算出故障率。
如我上文所述,我們盡力為客戶創(chuàng)建出穩(wěn)健可靠的器件。客戶可以參與到其中嗎?當(dāng)然可以。
在建立我們的可靠性估計(jì)時(shí),我們使用一個(gè)根據(jù)Arrhenius方程得出的溫度應(yīng)力系數(shù)如下:

其中:
Ea = 半導(dǎo)體激活能量
k = 玻爾茲曼常數(shù)
Tu = 使用溫度(K),或設(shè)計(jì)中的芯片溫度
Ts = 加速壽命測(cè)試中使用的應(yīng)力溫度(K)。
所以,比如說(shuō)你想提高一個(gè)系統(tǒng)的可靠性。利用本文末尾附帶的平均故障間隔時(shí)間(MTBF)工具,我們可以預(yù)測(cè)把工作溫度從100攝氏度降至90攝氏度后的效果。
我們對(duì)應(yīng)力溫度進(jìn)行控制,這些基于半導(dǎo)體工藝,一般為150攝氏度(423K)或175攝氏度(448K)。只是使用溫度是由你來(lái)控制,工作溫度越低,則可靠性更高。這就是你那部分的工作。
所以,比如說(shuō)你想提高一個(gè)系統(tǒng)的可靠性。利用本文末尾附帶的平均故障間隔時(shí)間(MTBF)工具,我們可以預(yù)測(cè)把工作溫度從100攝氏度降至90攝氏度后的效果。
100度時(shí),計(jì)算所得FIT為1009.
90度時(shí),計(jì)算所得FIT為860.
這個(gè)改進(jìn)夠了嗎?這得看你的需要了。
請(qǐng)注意,我并不是在談?wù)撨@些數(shù)字的基本現(xiàn)實(shí)意義。說(shuō)實(shí)在的,它們只是一些數(shù)字罷了。不過(guò)在實(shí)際設(shè)計(jì)中,其實(shí)也存在著相當(dāng)數(shù)量的假設(shè)和未曾考慮的因素。
時(shí)間不早了,瓶子里也只剩下約半杯的酒。我還在想要不要把余下的酒留待下次再喝……
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