Actel公司推出全新Icicle? 工具套件，進(jìn)一步彰顯業(yè)界功耗現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列 （FPGA） 在便攜式解決方案中的優(yōu)勢(shì)。新工具套件充分利用Actel的5微瓦 （μW） IGLOO? FPGA，展現(xiàn)了IGLOO在便攜式應(yīng)用中的超低功耗特性、靈活的實(shí)現(xiàn)方案選項(xiàng)和節(jié)省電池能量的優(yōu)勢(shì)。其中，1.4” x 3.6”的 Icicle評(píng)測(cè)板由可充電的鋰離子電池供電，在纖小型手機(jī)設(shè)計(jì)中，其功耗低至其它競(jìng)爭(zhēng)FPGA解決方案的七分之一。

　　Actel副總裁Fares Mubarak表示：“在今天的便攜式電子產(chǎn)品市場(chǎng)，低功耗和更長(zhǎng)的電池壽命至關(guān)重要，這突顯了我們的5μW IGLOO FPGA產(chǎn)品非常適合于這個(gè)市場(chǎng)需求。Actel全新炫酷的Icicle 工具套件讓設(shè)計(jì)人員能深入分析各種模式下的功耗，進(jìn)一步認(rèn)識(shí)到這些突破性的FPGA解決方案所提供的前所未有的低功耗和大幅節(jié)省電池能量的特點(diǎn)。”

　　FPGA（Field－Programmable Gate Array），即現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列，它是在PAL、GAL、CPLD等可編程器件的基礎(chǔ)上進(jìn)一步發(fā)展的產(chǎn)物。它是作為專用集成電路（ASIC）領(lǐng)域中的一種半定制電路而出現(xiàn)的，既解決了定制電路的不足，又克服了原有可編程器件門電路數(shù)有限的缺點(diǎn)。

　　FPGA模式

　　FPGA有多種配置模式：并行主模式為一片F(xiàn)PGA加一片EPROM的方式；主從模式可以支持一片PROM編程多片F(xiàn)PGA；串行模式可以采用串行PROM編程FPGA；外設(shè)模式可以將FPGA作為微處理器的外設(shè)，由微處理器對(duì)其編程。

　　如何實(shí)現(xiàn)快速的時(shí)序收斂、降低功耗和成本、優(yōu)化時(shí)鐘管理并降低FPGA與PCB并行設(shè)計(jì)的復(fù)雜性等問(wèn)題，一直是采用FPGA的系統(tǒng)設(shè)計(jì)工程師需要考慮的關(guān)鍵問(wèn)題。如今，隨著FPGA向更高密度、更大容量、更低功耗和集成更多IP的方向發(fā)展，系統(tǒng)設(shè)計(jì)工程師在從這些優(yōu)異性能獲益的同時(shí)，不得不面對(duì)由于FPGA前所未有的性能和能力水平而帶來(lái)的新的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。

　　例如，F(xiàn)PGA廠商Xilinx近推出的Virtex-5系列采用65nm工藝，可提供高達(dá)33萬(wàn)個(gè)邏輯單元、1,200個(gè)I/O和大量硬IP塊。超大容量和密度使復(fù)雜的布線變得更加不可預(yù)測(cè)，由此帶來(lái)更嚴(yán)重的時(shí)序收斂問(wèn)題。此外，針對(duì)不同應(yīng)用而集成的更多數(shù)量的邏輯功能、DSP、嵌入式處理和接口模塊，也讓時(shí)鐘管理和電壓分配問(wèn)題變得更加困難。

　　幸運(yùn)地是，F(xiàn)PGA廠商、EDA工具供應(yīng)商正在通力合作解決65nm FPGA獨(dú)特的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。不久以前，Synplicity與Xilinx宣布成立超大容量時(shí)序收斂聯(lián)合工作小組，旨在地幫助系統(tǒng)設(shè)計(jì)工程師以更快、更高效的方式應(yīng)用65nm FPGA器件。設(shè)計(jì)軟件供應(yīng)商Magma推出的綜合工具Blast FPGA能幫助建立優(yōu)化的布局，加快時(shí)序的收斂。

　　Icicle評(píng)測(cè)板是符合RoHs標(biāo)準(zhǔn)的環(huán)保型解決方案，集成了非易失性125,000門AGL125 IGLOO FPGA，并帶有內(nèi)置的可充電鋰離子電池、USB 至UART接口以及功率管理電路。

　　除了Icicle評(píng)測(cè)板之外，該工具套件還包含用于擴(kuò)展編程功能的精巧的編程接口。另外還提供及無(wú)限制使用許可的Gold （黃金） 版本Actel Libero集成設(shè)計(jì)環(huán)境 （IDE）。該套件的其它內(nèi)容還包括用戶指南和教程、印制電路板 （PCB） 原理圖、布局圖及樣品設(shè)計(jì)。