如何減小示波器垂直量測量偏差
出處:維庫電子市場網(wǎng) 發(fā)布于:2023-07-24 15:17:36
客戶在使用示波器測量高頻信號、強電壓、微小信號或者電源紋波、噪聲等的幅值/峰值等垂直量時,測量值出現(xiàn)偏差,垂直量測量值偏小或偏大等,導致用戶對示波器測量準確性產(chǎn)生質(zhì)疑。
示波器垂直量測量出現(xiàn)偏差的原因歸結(jié)為以下四點:
① 低頻補償調(diào)節(jié)與否;
② 示波器的底噪干擾對測量的影響;
③ 示波器的幅頻特性曲線差異;
④ 示波器的垂直分辨率對測量的影響。
當然示波器測量不一定比得上高的萬用表,所以若要在示波器垂直量測量中測出比較準確的數(shù)據(jù)需要掌握正確的操作技巧。
1、低頻補償調(diào)節(jié)與否
低頻補償(LFC)需要使用kHz范圍內(nèi)的方波(通常為1KHz 或10KHz)來調(diào)整X10檔探頭的頻率響應(yīng)。在進行低頻補償時,使用探頭連接kHz方波信號,若出現(xiàn)過補償或欠補償?shù)那闆r,可以用低頻調(diào)節(jié)棒調(diào)節(jié)探頭的低頻補償電容至方波平頂即可。
為何一定要進行低頻補償?
如下圖3所示為探頭與示波器輸入端相連時的內(nèi)部電路圖,R1是一個9MΩ的串行電阻,與示波器輸入端1MΩ輸入電阻組成10:1的衰減器,可有效減少輸入電容,有利于高頻信號的測量。
使用X10檔探頭測量信號時,隨著信號頻率的增加,容性負載的影響就越明顯,此時探頭主體中探針、電纜存在寄生電容(Cp、Cc)會造成探頭與示波器的阻抗不匹配(R1xC1≠R2x(C2+Cc)),從而影響信號測量。
由于寄生電容的不一致性,所以需要將C1做成可調(diào)電容,用來補償寄生電容的影響,使得R1xC1=R2x(C2+Cc),從而使探頭與示波器得以匹配。由于R1、R2的阻值比較大,所以R1、C1、R2、C2形成的極點頻率比較低,所以該電容又稱為低頻補償電容。
低頻補償對信號垂直量測量的影響:
以測量正弦波的峰峰值為例,在欠補償?shù)那闆r下,波形的垂直量將會偏小,過補償?shù)那闆r下,垂直量將會偏大。
2、示波器的底噪的干擾對測量的影響
底噪:
通常是指示波器的“基線本底噪聲”,在示波器的模擬前端和數(shù)字轉(zhuǎn)換過程造成的垂直噪聲。底噪的大小用信噪比來表示,該值越大,代表該信號的噪聲干擾越小,即測量儀器的底噪越小。
底噪對垂直量測量的影響:
底噪在示波器屏幕上表現(xiàn)出來就是當示波器置于靈敏的垂直檔位時產(chǎn)生的噪聲波形。當然,示波器的底噪與儀器使用的器件、硬件設(shè)計、信號處理等各方面都有關(guān)系,所以不同公司或不同型號的示波器底噪不同,如圖5所示。
⑴ 當示波器的底噪較大時,將會掩蓋住小信號,影響微小信號測量的準確度,導致測量垂直量不準確;
⑵ 當示波器的底噪較低,則信號的測量就會比較準確;
給兩不同公司的示波器輸入一個峰峰值為4mV的正弦信號,并分別測量其峰峰值從而了解底噪對測量的影響。
若測量中想減小底噪干擾對測量的影響,可以使用以下方法:
l 示波器的捕獲模式使用“平均”捕獲,平均捕獲可以將多次觸發(fā)的周期信號進行平均顯示,使信號在某個值附近微小浮動,更接近真實值,以減少噪聲的影響。
l 示波器可使用“數(shù)字濾波”的方式在低通濾波(高通濾波)下將大于截止頻率(小于截止頻率)噪聲信號進行濾除,提高測量的準確性。
3、示波器的幅頻特性曲線
帶寬:指示波器模擬前端的模擬帶寬。它的大小直接決定了示波器可測量的信號頻段范圍。
具體的說示波器帶寬:指示波器測得正弦波的幅度不低于真實正弦波信號-3dB幅度(即真實信號幅度的70.7%)時的頻率,也稱-3dB截止頻率點。隨著信號頻率的增加,示波器對信號的準確顯示能力都將會下降,如
示波器的幅頻特性曲線:指的是示波器信號的幅值隨信號頻率的增加而變化的曲線。
從可知,當被測信號的頻率等于示波器的帶寬(fBW)時,幅值測量結(jié)果誤差大約為30%。信號頻率小于f0的幅值基本無衰減,在f0~fBW 之間信號開始慢慢衰減,大于fBW 信號衰減越來越嚴重,所以若想使信號幅值衰減小,則被測信號的頻率應(yīng)小于帶寬的值很多。
所示為理想的幅頻特性曲線,但是實際上的示波器的幅頻特性曲線的形狀不可能是理想的。不同型號的示波器幅頻特性可能不一樣,但都會盡量趨近于理想曲線的形狀。
不同的示波器不同的幅頻特性曲線它們的平坦度是有差異的,但是帶內(nèi)衰減都在-3dB以內(nèi),均符合標準。因此不同示波器在同一個頻率點的信號其幅值衰減可能不同,這就導致了不同示波器在幅值測量上有偏差的原因。
4、示波器的垂直分辨率對測量的影響
一般數(shù)字示波器采用的都是8位ADC,對任何一個波形值都是用256個0和1來重組。假設(shè)示波器垂直方向滿量程為8格,對應(yīng)量化級數(shù)256。在垂直檔位為500mV/p的情況下,垂直為(500mV*8)/256=15.625 mV。測量同一個信號,在垂直檔位為50mV/p的情況下,即(50mV*8)/256=1.5625 mV,垂直就達到了1.5625 mV。
在實際測量中,由于測量波形的幅值不一樣,故垂直檔位設(shè)置也會不一樣,但是為了盡量使測量準確,可進行以下操作:
使測試信號幅值盡量占到屏幕6p左右。例如一個峰峰值為7Vpp的正弦波,垂直檔位應(yīng)設(shè)為1V/p,而不是2V/p或5V/p。實際上,這涉及到一個電壓分辨率的問題, ZDS4054 plus示波器ADC的量化分辨率25LSB/p。例如在1V/p電壓下,電壓分辨率為40mv,而當10V/p時,電壓分辨率為400mv。可知在1V/p下,測量值有更高的分辨率,測量值更準確。
綜上所示,示波器能夠觀測波形變化整體趨勢,在于高帶寬、高采樣率、高刷新率,傾向于高速信號測量。若想進行低速信號高垂直量測量建議使用高的萬用表和功率分析儀。
上一篇:IC靜電放電的測試方法
下一篇:電源噪聲的測試
版權(quán)與免責聲明
凡本網(wǎng)注明“出處:維庫電子市場網(wǎng)”的所有作品,版權(quán)均屬于維庫電子市場網(wǎng),轉(zhuǎn)載請必須注明維庫電子市場網(wǎng),http://hbjingang.com,違反者本網(wǎng)將追究相關(guān)法律責任。
本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其它出處的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點或證實其內(nèi)容的真實性,不承擔此類作品侵權(quán)行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品出處,并自負版權(quán)等法律責任。
如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
- 頻譜儀精準 TOI 測量的設(shè)置優(yōu)化2025/9/5 16:39:30
- SiPM 測試板偏置電壓源的選擇與考量2025/9/2 15:54:57
- EMC的測試方法有幾種常見2025/8/28 17:25:45
- FCBAG封裝集成電路在失效分析中常用的檢測設(shè)備與技術(shù)2025/8/27 17:03:25
- 高端精密裝備精度測量的核心理論與實用方法2025/8/27 16:31:27









