萬(wàn)用表-相位測(cè)試儀電路原理

出處：likee 發(fā)布于：2011-09-01 08:24:18 | 2984 次閱讀

    袖珍型數(shù)字萬(wàn)用表沒(méi)有L,C測(cè)量功能，即使便攜式數(shù)字表也沒(méi)有附加測(cè)L功能。該附加儀與DT-830B配合，即可以測(cè)L也可以測(cè)電路，電感的測(cè)量范圍為0.1Uh-2H,分六檔，最小分辨率為0.UH,為2%以內(nèi)。C的測(cè)量范圍為0.1pF~1μF,分四檔，最小分辨率為0.1pF,為1%左右。
    測(cè)電容C的電路如圖，由雙D觸發(fā)器CD4013等構(gòu)成。調(diào)200pF以上電容，數(shù)字表用直流2V檔，并要用為1%以內(nèi)的各量程標(biāo)準(zhǔn)電容分別校正；而測(cè)200pF以內(nèi)電容，應(yīng)用1%以內(nèi)的100pF電容校正后再用數(shù)字表200mV檔去測(cè)量。此時(shí)量程開(kāi)關(guān)應(yīng)打在1nF檔。本電路若布局合理，最小雜散電容為3pF左右。
    如圖電路wield測(cè)L電路。IC1a、IC1b與電阻、電容晶振等構(gòu)成500khz中頻振蕩器，若不經(jīng)分頻而輸入，則為最小量程20μH。

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