DC/DC 電路進階攻略:buck 電路全剖析
出處:網(wǎng)絡(luò)整理 發(fā)布于:2025-05-19 15:34:11 | 263 次閱讀
模擬信號源輸入減少帶來的誤差
以 STM32 的 ADC 轉(zhuǎn)換器為例,我們來看其示意圖。

從圖中能夠清晰地看到,輸入源與采樣引腳之間存在阻抗 RAIN。由于阻抗的存在,流入引腳的電壓會產(chǎn)生一定的壓降,這就使得最終輸入采樣引腳的電壓變小。ADC 采樣電容通過 RADC 電阻進行充電,若 RAIN 的阻抗選取不合理,會使保持電容充滿電所需的時間延長。通常,RC 充電的時間常量為:tc =(RADC + RAIN)× CADC。當采樣時間小于通過 RADC + RAIN 將 CADC 充滿電所需的時間(ts < tc)時,ADC 轉(zhuǎn)換的數(shù)字值就會小于實際值。
ADC 參考電壓噪聲
我們知道,ADC 輸出的數(shù)字量是由模擬信號電壓與參考電壓之比,再根據(jù) ADC 轉(zhuǎn)換器的位數(shù)換算得出的。所以,模擬參考的參考電壓上的任何噪聲都會導(dǎo)致轉(zhuǎn)換后數(shù)字輸出值發(fā)生變化。在某些芯片中,VDDA 模擬電源會直接用作參考電壓(VREF +),這就意味著 VDDA 電源的質(zhì)量會直接影響 ADC 采樣轉(zhuǎn)換的誤差。例如,當模擬參考電壓為 3.3 V(VREF + = VDDA)且采樣信號輸入為 1 V 時,轉(zhuǎn)換后的結(jié)果為:(4095 / 3.3)× 1 = 1240.9 = 0x4D9。然而,若模擬的參考電壓有波動,采樣輸出也會受到影響。假設(shè)參考電壓的波動為 40mv,此時的轉(zhuǎn)換值為:(4095 / 3.34)× 1 = 1226 = 0x4CA(VREF + 在峰值處)。由此可計算出兩者的誤差:誤差 = 0x4D9 – 0x4CA = 15。可見,參考電壓對 ADC 采樣轉(zhuǎn)換的影響極大,穩(wěn)定的參考電壓源是非常必要的。
采樣信號的最大輸入值與 ADC 動態(tài)范圍匹配不合理
在正常情況下,為了獲得最高的 ADC 轉(zhuǎn)換精度,選取的 ADC 動態(tài)范圍要與待轉(zhuǎn)換的信號最大幅度相匹配。假設(shè)待轉(zhuǎn)換信號在 0 ~ 2.5 V 之間變化,最大值不會超過 2.5V,并且 VREF + 等于 3.3 V。ADC 轉(zhuǎn)換的最大信號值為 3102 (2.5 V),如下圖所示。

從圖中可以看出,有 993 個未被使用的轉(zhuǎn)換(4095 – 3102 = 993)。這意味著浪費了很多的轉(zhuǎn)換范圍,簡單來說就是影響了分辨率,導(dǎo)致轉(zhuǎn)換后信號精度下降。下面我們深入分析一下:
ADC 采樣電路的設(shè)計問題
在正常使用過程中,ADC 采樣電路中常常會伴隨高頻 / 低頻干擾信號。因此,在設(shè)計時一般會增加濾波電路,以提高輸入采樣信號的純凈度。如下圖所示。

從圖中可以看到,電阻 RAIN 和電容 CAIN 組成了 RC 網(wǎng)絡(luò)。這部分器件的取值對輸入信號有不同的影響,如果取值不合理,就可能導(dǎo)致 ADC 轉(zhuǎn)換的結(jié)果不準確。
I/O 引腳受外部干擾信號的影響
在設(shè)計采樣電路時,需要考慮該 IO 附近是否存在高頻的信號源。如果有高頻信號源存在,信號變化會影響采樣 IO,導(dǎo)致 ADC 轉(zhuǎn)換結(jié)果出現(xiàn)誤差。常見的案例如下:
PCB 板走線設(shè)計問題
PCB 走線至關(guān)重要,并非簡單的連線接通就行。如果采樣電路附近會產(chǎn)生較高的電磁輻射,就有可能將電磁輻射引入采樣,從而產(chǎn)生高頻干擾。還有一種情況,就是高速信號與 GND 兩者很近,走線平行,很有可能會形成電磁場,從而造成干擾。
綜上所述,在 ADC 的實際應(yīng)用中,我們需要充分考慮這些外部因素可能帶來的誤差,通過合理的設(shè)計和優(yōu)化,盡可能減小誤差,提高 ADC 采樣的準確性和可靠性。
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