32位ARM嵌入式處理器的調(diào)試技術(shù)

輯中加入調(diào)試模塊，從而能夠降低成本，實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)的在線仿真器和邏輯分析儀器的功能，并在一定的條件下實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)跟蹤和分析，進(jìn)行軟件代碼的優(yōu)化。1 邊界掃描技術(shù)（jtag） 邊界掃描技術(shù)是為了滿足當(dāng)今深度嵌入式系統(tǒng)調(diào)試的需要而被ieee1149.1標(biāo)準(zhǔn)所采納，全稱是標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試訪問接口與邊界掃描結(jié)構(gòu)（standard test access portand boundary scan architecture）。jtag遵循1149.1標(biāo)準(zhǔn)，是面向用戶的測(cè)試接口，是arm處理器調(diào)試的基礎(chǔ)。本文提到的arm的e-trace調(diào)試模式實(shí)際上是jtag的增強(qiáng)版本，其它一些32位嵌入式處理器的調(diào)試方式也基本上遵循這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)。這個(gè)用戶接口一般由4個(gè)引腳組成：測(cè)試數(shù)據(jù)輸入（tdi）、測(cè)試數(shù)據(jù)輸出（tdo）、測(cè)試時(shí)鐘（tck）、測(cè)試模式選擇引腳（tms），有的還加了一個(gè)異步測(cè)試復(fù)位引腳（trst）。其體系結(jié)構(gòu)如圖1。 所謂邊界掃描就是將芯片內(nèi)部?jī)?nèi)科所有的引腳通過邊界掃描單元（bsc）串接起來，從jtag的tdi引入，tdo引出。芯片內(nèi)的邊界掃描鏈由許多的bsc組成，通過這些掃描單元，可以實(shí)現(xiàn)許多在線仿真器的功能。根據(jù)1149.