系統(tǒng)和設(shè)計(jì)工程師通常使用噪聲系數(shù)來(lái)確保最佳信號(hào)性能。然而,在信號(hào)鏈中使用混頻器給簡(jiǎn)單的噪聲系數(shù)分析帶來(lái)了挑戰(zhàn)。本教程首先檢查噪聲系數(shù)的基本定義,然后繼續(xù)對(duì)涉及混...
分類(lèi):測(cè)試測(cè)量電路 時(shí)間:2023-08-30 閱讀:536
簡(jiǎn)介 每個(gè)電子設(shè)備都必須經(jīng)過(guò)不同的測(cè)試才能確定其預(yù)期性能。這是該設(shè)備獲準(zhǔn)投放市場(chǎng)之前的必要步驟。需要進(jìn)行的一項(xiàng)重要測(cè)試是溫度測(cè)量,以確定產(chǎn)品有效工作的溫度范圍...
分類(lèi):測(cè)試測(cè)量電路 時(shí)間:2023-08-29 閱讀:427
許多應(yīng)用都需要感測(cè)電源總線高側(cè)電源軌上的電流,并將其轉(zhuǎn)換為與該電流成比例的相對(duì)地電壓(參見(jiàn)圖 1)。通常,該電壓被饋入微控制器或用作開(kāi)關(guān)電源控制器的模擬輸入。本應(yīng)...
分類(lèi):測(cè)試測(cè)量電路 時(shí)間:2023-08-23 閱讀:546
關(guān)于交流特性測(cè)量方法討論的最后一部分描述了短路和過(guò)載電流特性、遠(yuǎn)程開(kāi)/關(guān)控制和隔離電壓。它還涵蓋了 DC-DC 轉(zhuǎn)換器的隔離電阻和電容、動(dòng)態(tài)負(fù)載響應(yīng)以及輸出紋波或噪聲。...
分類(lèi):測(cè)試測(cè)量電路 時(shí)間:2023-08-22 閱讀:507
這是如何測(cè)量印刷在 PCB 上的微帶傳輸線的未知阻抗的過(guò)程。 對(duì)于此測(cè)試,您需要網(wǎng)絡(luò)分析儀和史密斯圓圖軟件(例如 WinSMITH)。 要測(cè)量特定頻率下的阻抗,建議微帶線...
分類(lèi):測(cè)試測(cè)量電路 時(shí)間:2023-08-21 閱讀:610
所提供的射頻功率計(jì)基于 Analog Devices 制造的 AD8313對(duì)數(shù)檢測(cè)器。 該 IC 可以直接從 ADI ( http://www.analog.com/en/ )訂購(gòu)樣品,也可以在市場(chǎng)上一些禁用的 GSM 手機(jī)...
分類(lèi):測(cè)試測(cè)量電路 時(shí)間:2023-08-21 閱讀:592
2.4GHz ISM 頻段變得非常擁擠,必須使用靈敏的頻譜分析儀監(jiān)視器來(lái)查看該頻段中的活動(dòng)。 只需將全向天線插入分析儀的輸入端,您就可以看到誰(shuí)在發(fā)射。 輸入信號(hào)經(jīng)過(guò)低...
分類(lèi):測(cè)試測(cè)量電路 時(shí)間:2023-08-21 閱讀:531
輸入偏置電流是一個(gè)通常被忽視的放大器參數(shù),它會(huì)對(duì)放大器電路的輸出精度產(chǎn)生重大影響。有時(shí)這種影響小到可以忽略不計(jì),但有時(shí)它會(huì)導(dǎo)致電路完全失效。設(shè)計(jì)電流傳感或傳感器...
分類(lèi):測(cè)試測(cè)量電路 時(shí)間:2023-08-15 閱讀:593
對(duì)新型4.5 kV/50 mm二極管樣品的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)特性進(jìn)行了一系列評(píng)估測(cè)試。在測(cè)試結(jié)果中,B型樣品的阻斷漏電流和正向壓降似乎都是最低的,A型樣品似乎兩者都最高,而C型樣品則...
分類(lèi):測(cè)試測(cè)量電路 時(shí)間:2023-08-08 閱讀:365
由于晶體驅(qū)動(dòng)電平無(wú)法直接測(cè)量,因此我們需要測(cè)量電路量,例如電壓或電流,并使用晶體電氣模型來(lái)近似其功率電平。晶體的等效電路如圖3 所示。 圖 3.晶體的等效電路。圖...
分類(lèi):測(cè)試測(cè)量電路 時(shí)間:2023-08-03 閱讀:586
低成本 BER 測(cè)試儀測(cè)量低數(shù)據(jù)速率應(yīng)用中的錯(cuò)誤
Atmel AVR 微控制器創(chuàng)建 PRBS 信號(hào),并將生成的輸出流與接收到的數(shù)據(jù)位進(jìn)行比較(圖1)。發(fā)送 100 萬(wàn)位后,系統(tǒng)會(huì)在 2 行 x 16 字符 LCD 上顯示接收錯(cuò)誤的位數(shù)。您可以對(duì)設(shè)...
分類(lèi):測(cè)試測(cè)量電路 時(shí)間:2023-07-28 閱讀:590
微控制器簡(jiǎn)化了電池充電狀態(tài)測(cè)量
從可再生能源(例如光伏板或風(fēng)力發(fā)電機(jī))接收電力的系統(tǒng)通常會(huì)在可充電電池中積累電力并將其輸送到負(fù)載。通常,這兩個(gè)過(guò)程同時(shí)發(fā)生。定期評(píng)估電池的剩余電量可確保延長(zhǎng)性能...
分類(lèi):測(cè)試測(cè)量電路 時(shí)間:2023-07-28 閱讀:579
要發(fā)現(xiàn)潛在的電源問(wèn)題,您必須運(yùn)行動(dòng)??態(tài)和靜態(tài)測(cè)試。這個(gè)簡(jiǎn)單的電流吸收器測(cè)試中低功率電源和電壓源。在此應(yīng)用中,電流吸收器可在 0 至 5V 的輸入電壓范圍以及高達(dá) 20V 的...
分類(lèi):測(cè)試測(cè)量電路 時(shí)間:2023-07-27 閱讀:605
隔離電壓檢測(cè)在許多工業(yè)應(yīng)用中至關(guān)重要。隔離是一種防止設(shè)備兩個(gè)部分之間存在直流電或交流電,同時(shí)允許這兩個(gè)部分之間傳輸信號(hào)和電力的方法。隔離還可以管理接地電位差,提...
分類(lèi):測(cè)試測(cè)量電路 時(shí)間:2023-07-25 閱讀:688
使用此電路圖可以設(shè)計(jì)一個(gè)非常簡(jiǎn)單的晶體管測(cè)試儀電子電路項(xiàng)目。該晶體管測(cè)試儀電子電路項(xiàng)目對(duì)于測(cè)試 pnp 和 npn 類(lèi)型的晶體管非常有用。該晶體管測(cè)試儀電子電路項(xiàng)目由幾個(gè)...
分類(lèi):測(cè)試測(cè)量電路 時(shí)間:2023-07-10 閱讀:456
利用下圖中的電子方案可以構(gòu)造出具有聲音指示的邏輯測(cè)試儀。下圖中的聲學(xué)測(cè)試儀在檢測(cè)到邏輯0時(shí)會(huì)產(chǎn)生低頻聲音,在檢測(cè)到邏輯1時(shí)會(huì)產(chǎn)生高頻聲音。電容器 C1 和 C2 產(chǎn)生的頻...
分類(lèi):測(cè)試測(cè)量電路 時(shí)間:2023-06-26 閱讀:662
一個(gè)非常簡(jiǎn)單的紅外遙控測(cè)試儀原理圖電路,可用于測(cè)試紅外遙控或紅外屏障等紅外設(shè)備,可以像本電路圖中一樣設(shè)計(jì),使用很少的常見(jiàn)電子部件。該電路采用TAA861運(yùn)算放大電路作...
分類(lèi):測(cè)試測(cè)量電路 時(shí)間:2023-06-13 閱讀:19328
此 TTL 測(cè)試儀設(shè)備對(duì)于查看狀態(tài) TTL 邏輯電路非常有用。該TTL測(cè)試儀電路不能用于查看CMOS電路的狀態(tài),因?yàn)橐_上相對(duì)較高的輸入電流會(huì)明顯損壞它們。 設(shè)備操作非常簡(jiǎn)單...
分類(lèi):測(cè)試測(cè)量電路 時(shí)間:2023-06-13 閱讀:22047
利用555定時(shí)器集成電路設(shè)計(jì)了一個(gè)非常簡(jiǎn)單的555定時(shí)器測(cè)試儀電路。通過(guò)插槽中連接的 555 定時(shí)器電路,我們可以檢測(cè)定時(shí)器是否正常工作。上面的 555 定時(shí)器測(cè)試電路基本上是...
分類(lèi):測(cè)試測(cè)量電路 時(shí)間:2023-06-08 閱讀:1362
本電子項(xiàng)目是一款使用555定時(shí)器電路設(shè)計(jì)的測(cè)試設(shè)備。它是一個(gè)方波發(fā)生器,具有從 1Hz 到 100kHz 的 6 個(gè)可選頻率,以十進(jìn)制值遞增。 此方波發(fā)生器電子項(xiàng)目基于流行的 55...
分類(lèi):測(cè)試測(cè)量電路 時(shí)間:2023-06-08 閱讀:948
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